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石英晶体微天平研究系统 (RQCM)
晶体频率、质量和阻力测量

RQCM 一种非常先进的方法，用于测量薄膜在沉积、溶解或渗透过程中的性能。 最多可以同时测量 3 颗晶体，质量分辨率小于 0.4 ng/cm 2。 所有数据都使用集成的基于 Windows 的软件实时加以记录并以图形显示。

功能概览
  • 最多同时测量 3 颗晶体
  • 测量分辨率小于 0.4 ng/cm 2
  • 频率范围： 3.8 - 6 MHz、5.1 - 10 MHz
  • 支持重荷晶体
  • 电容消除
  • 电绝缘晶体电极
  • 板载数据采集
  • 控制输入和输出
  • 包括基于 Windows 的集成式软件

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相关技术资料

Software:

   Software - RQCM_DATALOGGER_V2.0.3
English

产品样本和数据表:

   Brochure - Crystal Holders/Flow Cell/Glass Cell
English

   Brochure - RQCM Quartz Crystal Microbalance Research System
English

   Brochure - Research Crystals
English

   Instruction Sheet - How to Install a Crystal
English

   Instruction Sheet - Probe Maintenance
English

   Maintenance and Installation Manual - CHC-15 Crystal Holders, GC-15 Glass Cell Cell
English

   Operating Manual - RQCM Quartz Crystal Microbalance Research System
English

技术资料:

   Technical Note - Communications Checklist - RS-232
English

   Technical Note - Dynamically Adjusted Measurement Update Rate
English

   Technical Note - RQCM Software; Run-Time Error '35603': Invalid Key
English

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